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瑞紳葆攜XRF分析樣品前處理儀器亮相BCEIA

瑞紳葆分析技術(上海)有限公司

關鍵詞: BCEIA,XRF,樣品前處理

      2019年10月23日至26日,世界分析儀器行業四大展會之一的北京分析測試學術報告會暨展覽會(BCEIA 2019)在北京國家會議中心舉行。瑞紳葆分析技術(上海)有限公司(簡稱“瑞紳葆”)攜全套波長色散x射線熒光光譜儀(簡稱“XRF”)分析配套樣品前處理儀器亮相展覽會。

       北京分析測試學術報告會暨展覽會(簡稱“BCEIA”),于1985年經國務院批準,由原中華人民共和國國家科學技術委員會成功舉辦了第一屆,是我國首次舉辦的分析測試領域的大型國際學術會議和展覽會。BCEIA展覽會作為展示國際新技術新儀器、新設備的窗口一直以來受到國內外眾多專家、學者、科技人員的持續關注,近年歷屆展會所展示的新儀器、新設備均超過3000余臺,在促進國際間的科學技術交流,推動我國分析測試科學和儀器制造技術的發展起到了重要作用。

       展會中,科研、鋼鐵、水泥、有色金屬等多個行業的新老朋友陸續蒞臨瑞紳葆展位,參觀展品,加深了解,交流溝通,洽談合作,忙碌而融洽。瑞紳葆工作人員向客人們詳細地介紹每一款樣品前處理儀器,并了解客人們在儀器使用中的想法和需求,并作為以后產品改進的可能方向。作為XRF分析樣品前處理領域的專家,瑞紳葆一貫堅持以技術為本,不斷提高服務水平,持續優化創新,用更為優質的產品回報大家,為XRF分析工作者提供更多的選擇和幫助。

      BCEIA2019雖已告一段落,而瑞紳葆與您的交流與合作永遠沒有結束,只要您有需要,瑞紳葆與您一路同行。

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